[发明专利]一种三维存储器及其制作方法有效

专利信息
申请号: 201811397457.5 申请日: 2018-11-22
公开(公告)号: CN109524414B 公开(公告)日: 2020-11-03
发明(设计)人: 陆智勇;赵治国;霍宗亮;叶甜春 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: H01L27/11551 分类号: H01L27/11551;H01L27/11578;H01L27/11524;H01L27/1157
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 王宝筠
地址: 100029 北京市朝阳*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供了一种三维存储器及其制作方法,包括:在沟道孔的底部形成外延硅层,并在沟道孔的侧壁上形成第一氧化硅层、氮化硅层和第二氧化硅层;在沟道孔的侧壁上形成预设厚度的第一无定型硅层;去除外延硅层表面的第一氧化硅层、氮化硅层、第二氧化硅层和第一无定型硅层;去除沟道孔内的第一无定型硅层;在沟道孔的侧壁上形成预设厚度的第二无定型硅层,并对第二无定型硅层进行干氧化处理,不仅可以同时对第一氧化硅层、氮化硅层、第二氧化硅层和第二无定型硅层进行退火处理,而且可以使得部分第二无定型硅层形成填充沟道孔的第三氧化硅层,相当于采用一个步骤代替了现有技术中的四个步骤,从而减少了三维存储器的制作步骤,缩短了制作时间。
搜索关键词: 一种 三维 存储器 及其 制作方法
【主权项】:
1.一种三维存储器的制作方法,其特征在于,包括:提供衬底,所述衬底表面具有堆叠层以及贯穿所述堆叠层的沟道孔,所述堆叠层包括多层交替排布的层间介质层和牺牲介质层;在所述沟道孔的底部形成外延硅层,并在所述沟道孔的侧壁上依次形成第一氧化硅层、氮化硅层和第二氧化硅层;在所述沟道孔的侧壁上形成预设厚度的第一无定型硅层;去除所述外延硅层表面的所述第一氧化硅层、所述氮化硅层、所述第二氧化硅层和所述第一无定型硅层;去除所述沟道孔内的所述第一无定型硅层;在所述沟道孔的侧壁上形成预设厚度的第二无定型硅层,并对所述第二无定型硅层进行干氧化处理,以在对所述第一氧化硅层、所述氮化硅层、所述第二氧化硅层和所述第二无定型硅层进行退火的同时,使部分所述第二无定型硅层形成填充所述沟道孔的第三氧化硅层。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院微电子研究所,未经中国科学院微电子研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201811397457.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top