[发明专利]一种自带AD9361芯片的系统的多通道测试方法及装置

摘要

本发明公开了一种自带AD9361芯片的系统的多通道测试方法及装置，配置AD9361模块，进入校正模式，由信号源发射正交单音信号；利用AD9361模块的发射功能发射单音信号，同时利用系统自带的多个AD9361通道进行校正数据的接收；对所有通道接收数据进行计算，然后进入验证模式，由信号源发送单载波信号；利用AD9361模块的发射和接受验证数据，利用计算得到的每个通道的延迟、幅度和相位值，对每个通道进行参数补偿；对验证数据进行接收和观察，如果接收到的信号对应的延迟、幅度和相位完全一致，则说明测试方法有效。本发明提出的方法通用性高，不需要额外的硬件设计，仅需要提供合理的计算资源即可；本发明提出的方法简单易行，能够满足各种场景下的使用需求。

主权项

1.一种自带AD9361芯片的系统的多通道测试方法，其特征在于，包括以下步骤：(1)配置AD9361模块，关闭AD9361模块的接收通道的IQ校正跟踪功能；(2)进入校正模式，由信号源发射I路为sin，Q路为cos的正交单音信号；(3)利用AD9361模块的发射功能发射单音信号，同时利用系统自带的多个AD9361通道进行校正数据的接收；(4)对所有通道接收数据进行计算，其中第i个通道采样得到的数据分别为其中m为最终的采样数；对于该采样数，顺序依次滑动采样N个采样值，并计算其中|P(k)|绝对值最大的对应的k^*值为对应通道的延迟，|P(k^*)|为对应通道的幅值，angle(P(k^*))为对应通道的相位值；(5)然后进入验证模式，由信号源发送I路为单载波，Q路为0值的单载波信号；(6)利用AD9361模块的发射和接受验证数据；(7)利用计算得到的每个通道的延迟、幅度和相位值，对每个通道进行参数补偿；(8)对验证数据进行接收和观察，如果接收到的信号对应的延迟、幅度和相位完全一致，则说明测试方法有效。