[发明专利]一种光电探测/对抗产品的全向探测性能测试系统有效
| 申请号： | 201811407045.5 | 申请日： | 2018-11-23 |
| 公开（公告）号： | CN109387355B | 公开（公告）日： | 2021-03-02 |
| 发明（设计）人： | 王少飞;余晨菲;付洁;杜保林;周德召;陈晓梅;谢飞 | 申请（专利权）人： | 中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所 |
| 主分类号： | G01M11/00 | 分类号： | G01M11/00;G01V13/00;G05D3/12 |
| 代理公司： | 西北工业大学专利中心 61204 | 代理人： | 刘新琼 |
| 地址： | 471099 *** | 国省代码： | 河南;41 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种光电探测/对抗产品的性能测试系统，设备包括被测件安装框架、安装平台、方位转台、光学对准装置、目标模拟器和控制柜。被测件安装框架用于承载受试产品；安装平台用于给整个测试系统提供水平基础；方位转台用于方位一维运动环境；目标模拟器用于提供可见光和红外特征目标；控制柜用于实现产品摆镜与方位转台的同步运动交联，同时提供产品与转台位置数据的以太网时钟同步。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光电 探测 对抗 产品 全向 性能 测试 系统 | ||
【主权项】：
1.一种光电探测/对抗产品的性能测试系统，其特征在于包括被测件安装框架(1)、安装平台(2)、方位转台(3)、光学对准装置(4)、目标模拟器(5)和控制柜(6)；其中，控制柜(6)和方位转台(3)中均配备支持IEEE 1588协议的PTP对时板卡；被测件安装框架(1)用于安装受试产品；方位转台(3)与目标模拟器(5)配合构成可一维运动的可见光/红外模拟目标；光学对转装置(4)用于目标模拟器(5)光轴中心与受试产品光轴中心快速对准；各部件之间的位置关系：被测件安装框架(1)和方位转台(3)安装在安装平台(2)上，目标模拟器(5)固定在方位转台(3)悬臂末端的平台上，光学对转装置(4)在目标模拟器(5)光学出口的最前端，与目标模拟器(5)安装在同一平台上；控制柜(6)与方位转台(3)和产品交联，向方位转台(3)和产品中的对时卡授时，控制方位转台(3)运动，并接收方位转台(3)和产品反馈的位置信息数据。
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