[发明专利]半导体存储器装置及其操作方法在审
| 申请号： | 201811409219.1 | 申请日： | 2018-11-23 |
| 公开（公告）号： | CN110010187A | 公开（公告）日： | 2019-07-12 |
| 发明（设计）人： | 金经纶 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G11C29/00 | 分类号： | G11C29/00;G11C29/44 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人： | 赵南;张帆 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 本申请提供了一种半导体存储器装置及其操作方法。所述半导体存储器装置具有存储器单元阵列和修复控制电路。存储器单元阵列包括正常单元区和冗余单元区，正常单元区包括多个正常区组，冗余单元区被构造为替代正常单元区的失效的存储器单元。修复控制电路被构造为：基于输入地址从所述多个正常区组中确定目标正常区组，基于目标正常区组从多个失效地址中提取目标失效地址，以及基于目标失效地址和输入地址控制修复操作。 | ||
| 搜索关键词： | 正常区 半导体存储器装置 失效地址 正常单元 存储器单元阵列 控制电路 冗余单元 输入地址 修复 存储器单元 替代 申请 | ||
【主权项】：
1.一种半导体存储器装置，包括：存储器单元阵列，其包括正常单元区和冗余单元区，所述正常单元区包括多个正常区组，所述冗余单元区被构造为替代所述正常单元区的失效的存储器单元；以及修复控制电路，其被构造为，基于输入地址从所述多个正常区组中确定目标正常区组，基于所述目标正常区组从多个失效地址中提取目标失效地址，以及基于所述目标失效地址和所述输入地址控制修复操作。
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