[发明专利]一种光电耦合测试系统在审
申请号: | 201811412387.6 | 申请日: | 2018-11-25 |
公开(公告)号: | CN111220860A | 公开(公告)日: | 2020-06-02 |
发明(设计)人: | 刘晓航;徐怡 | 申请(专利权)人: | 杭州铭迦网络科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 310000 浙江省杭州市杭州经济技术开发区*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明公开了一种光电耦合测试系统,所述光电耦合系统包括前级电路、后级电路,所述前级电路包括电源、第一开关和发光二极管,所述发光二极管与前级电路电连接,所述发光二极管、第一开关和电源配合设置使前级电路形成闭合电路,所述后级电路包括第二开关、光敏电阻和欧姆表,所述光敏电阻与后级电路电连接,所述光敏电阻、第二开关和欧姆表配合设置使后级电路形成闭合电路,所述发光二极管与光敏电阻相邻,所述欧姆表与光敏电阻并联,所述电源为电压可变电源。本发明设计结构合理,它能够有效的避免前级电路与后级电路闭合时的额电阻大小对系统的影响,能够有效的保证测试的成功,能够有效的实现对光电耦合现象的测试。 | ||
搜索关键词: | 一种 光电 耦合 测试 系统 | ||
【主权项】:
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