[发明专利]用于阻性存储单元的测试结构及耐久性测试方法有效
| 申请号： | 201811424807.2 | 申请日： | 2018-11-27 |
| 公开（公告）号： | CN111223518B | 公开（公告）日： | 2021-08-20 |
| 发明（设计）人： | 何世坤;杨晓蕾;竹敏;任云翔 | 申请（专利权）人： | 中电海康集团有限公司;浙江驰拓科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/50 | 分类号： | G11C29/50 |
| 代理公司： | 北京兰亭信通知识产权代理有限公司 11667 | 代理人： | 赵永刚 |
| 地址： | 311121 浙江省杭州*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明提供一种用于阻性存储单元的测试结构及耐久性测试方法。所述测试结构包括：多个待测阻性存储单元，每个待测阻性存储单元分别连接有一个可控开关器件，每个待测阻性存储单元的第一连接端接于一点，共同连接至第一测试电极，每个待测阻性存储单元的第二连接端分别连接至对应的可控开关器件的第一连接端，每个可控开关器件的第二连接端接于一点，共同连接至第二测试电极，每个可控开关器件的控制端分别连接至各自的控制信号电极，其中，第一测试电极和第二测试电极用于输入读写信号，各控制信号电极用于输入可控开关器件的控制信号。本发明能够节省版图面积，提高测试效率，节省测试时间。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 存储 单元 测试 结构 耐久性 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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