[发明专利]一种具有定位功能的扫描测试结构及方法有效
| 申请号： | 201811426840.9 | 申请日： | 2018-11-27 |
| 公开（公告）号： | CN109444716B | 公开（公告）日： | 2021-08-10 |
| 发明（设计）人： | 曾辉;张心标;姜雪风;胡博 | 申请（专利权）人： | 中科曙光信息产业成都有限公司;成都海光集成电路设计有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京兰亭信通知识产权代理有限公司 11667 | 代理人： | 赵永刚 |
| 地址： | 610015 四川省成都*** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种具有定位功能的扫描测试结构及方法，所述结构包括：具有至少一个扫描寄存器的扫描链和与所述扫描链连接并用于对扫描寄存器采用定位逻辑进行定位标记的定位模块，以使将所述定位模块用于定位标记的标记值随所述扫描链的数据值移出并对所述标记值和所述数据值进行分析判断故障的位置和分布状态。本发明能够大大提高定位故障解决故障的效率，并且还能够通过采用灵活高效的扫描测试结构有效的促进芯片工艺的改善芯片。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 具有 定位 功能 扫描 测试 结构 方法 | ||
【主权项】：
1.一种具有定位功能的扫描测试结构，其特征在于，包括：具有至少一个扫描寄存器的扫描链和与所述扫描链连接并用于对扫描寄存器采用定位逻辑进行定位标记的定位模块，以使将所述定位模块用于定位标记的标记值随所述扫描链的数据值移出并对所述标记值和所述数据值进行分析判断故障的位置和分布状态。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中科曙光信息产业成都有限公司;成都海光集成电路设计有限公司，未经中科曙光信息产业成都有限公司;成都海光集成电路设计有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201811426840.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种组合测试装置
- 下一篇：新型在片S参数误差校准方法和装置
