[发明专利]一种有效介电常数评估测试方法及系统有效
申请号: | 201811426983.X | 申请日: | 2018-11-27 |
公开(公告)号: | CN109581068B | 公开(公告)日: | 2021-03-12 |
发明(设计)人: | 孙保玉;彭卫红;宋建远 | 申请(专利权)人: | 深圳崇达多层线路板有限公司 |
主分类号: | G01R27/26 | 分类号: | G01R27/26 |
代理公司: | 深圳市精英专利事务所 44242 | 代理人: | 冯筠 |
地址: | 518000 广东省深圳市宝安区沙井街道新桥横岗下工*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明涉及介电常数检测技术领域,具体为一种有效介电常数评估测试方法及系统。本发明通过测定阻抗测试板中各阻抗的阻抗值并结合阻抗的线宽、线厚及相邻介质层厚度等参数,利用阻抗模拟软件反向计算与该阻抗对应的有效介电常数,再将有效介电常数与线宽、与阻抗相邻层的含胶量等参数进行回归分析得到用于计算有效介电常数的多项式方程,从而实现无需介电常数检测仪,通过计算的方式即可获知板材的有效介电常数,为生产设计提供便利。本发明方法所构建的多项式方程可比较准确的计算板材的有效介电常数,能够满足生产的精度要求。 | ||
搜索关键词: | 一种 有效 介电常数 评估 测试 方法 系统 | ||
【主权项】:
1.一种有效介电常数评估测试方法,其特征在于,包括以下步骤:S1、检测若干相同的阻抗测试板上阻抗的阻抗值;所述阻抗测试板的压合结构的参数是已知值,所述压合结构的参数包括压合结构中各半固化片层的含胶量;S2、对各阻抗测试板做切片分析,分别测量阻抗测试板上阻抗的上线宽、下线宽、线厚、上层介质厚度、下层介质厚度;S3、根据步骤S1和步骤S2测量所得的数据,使用阻抗模拟软件计算与各阻抗对应的有效介电常数;S4、对步骤S3所得有效介电常数、对应阻抗的线宽、与对应阻抗相邻层的含胶量进行回归分析以拟合出关于Y、X1、X2、X12、X22、X1X2的多项式方程F(X);所述Y为有效介电常数,X2为线宽,X1为含胶量,X22则为线宽的平方,X12则为含胶量的平方,X1X2则为含胶量与线宽之积;S5、将板材的含胶量和板材上已制作/拟制作的线路的线宽代入所述多项式方程F(X)中,计算得到该板材的有效介电常数。
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