[发明专利]一种星载一维综合孔径微波辐射测量系统及测量方法有效
| 申请号： | 201811428988.6 | 申请日： | 2018-11-27 |
| 公开（公告）号： | CN109541325B | 公开（公告）日： | 2021-05-11 |
| 发明（设计）人： | 陈雄;赵锋;姚崇斌;谢振超;刘婧;陈桂莲;李丹;李强;查晓晨;张鑫裴;张理正 | 申请（专利权）人： | 上海航天电子通讯设备研究所 |
| 主分类号： | G01R29/08 | 分类号： | G01R29/08 |
| 代理公司： | 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 | 代理人： | 胡晶 |
| 地址： | 201108 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种星载一维综合孔径微波辐射测量系统，包括：场景辐射计接收机阵列，用于接收场景微波信号和等功率内噪声源相干信号，并输出中频信号；定标辐射计接收机，用于接收冷空外定标信号和等功率内噪声源相干信号，并通过冷空外定标信号和匹配负载进行标定，以利用标定后的辐射计接收机实时测量等功率内噪声源相干信号；本振移相网络，场景辐射计接收机阵列和定标辐射计接收机共用本振移相网络，以使本振移相网络向所述场景辐射计接收机阵列和定标辐射计接收机提供所需的本振信号。本发明的微波辐射测量系统结构简单、易于实现。可实时测量等功率内噪声源相干信号，降低等功率内噪声源相干信号稳定性要求，降低工程实现难度，提高相位定标精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 星载一维 综合 孔径 微波 辐射 测量 系统 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种星载一维综合孔径微波辐射测量系统，其特征在于，包括：场景辐射计接收机阵列，用于接收场景微波信号和等功率内噪声源相干信号，并输出中频信号；定标辐射计接收机，用于接收冷空外定标信号和等功率内噪声源相干信号，并通过冷空外定标信号和匹配负载进行标定，以利用标定后的辐射计接收机实时测量等功率内噪声源相干信号；本振移相网络，所述场景辐射计接收机阵列和定标辐射计接收机共用所述本振移相网络，以使所述本振移相网络向所述场景辐射计接收机阵列和定标辐射计接收机提供所需的本振信号。
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