[发明专利]有效分析SSD前端NVMe模块性能的方法及系统有效
| 申请号： | 201811431410.6 | 申请日： | 2018-11-26 |
| 公开（公告）号： | CN109582523B | 公开（公告）日： | 2022-03-25 |
| 发明（设计）人： | 高湾湾;冯元元;周强 | 申请（专利权）人： | 深圳忆联信息系统有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/26 | 分类号： | G06F11/26;G06F11/22 |
| 代理公司： | 深圳市精英专利事务所 44242 | 代理人： | 冯筠 |
| 地址： | 518067 广东省深圳市南山区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种有效分析SSD前端NVMe模块性能的方法及系统,方法包括以下步骤：通过DRAM模块模拟SSD后端的Flash模块；接收并执行来之主机的命令；根据命令在主机和DRAM模块之间进行数据传输；获取SSD性能数据作为NVME模块性能数据。本方案通过DRAM模块来模拟SSD后端的Flash模块，完整的实现了NVMe模块的作用，通过进行SSD性能测试即可得到SSD前端的NVMe模块硬件IP的极限性能，能够精准的了解NVMe模块硬件IP的性能，并根据NVMe模块硬件IP的性能来对SSD进行维护或者升级，以提高SSD整体的性能，提高产品使用体验。 | ||
| 搜索关键词： | 有效 分析 ssd 前端 nvme 模块 性能 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种有效分析SSD前端NVMe模块性能的方法，其特征在于，包括，通过DRAM模块模拟SSD后端的Flash模块；接收并执行来自主机的命令；根据命令在主机和DRAM模块之间进行数据传输；获取SSD性能数据作为NVME模块性能数据。
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