[发明专利]一种存储器测试治具、使用方法及排线跳帽在审
申请号: | 201811432788.8 | 申请日: | 2018-11-28 |
公开(公告)号: | CN109545270A | 公开(公告)日: | 2019-03-29 |
发明(设计)人: | 石德礼 | 申请(专利权)人: | 郑州云海信息技术有限公司 |
主分类号: | G11C29/56 | 分类号: | G11C29/56 |
代理公司: | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人: | 林桐苒;解婷婷 |
地址: | 450018 河南省郑州市*** | 国省代码: | 河南;41 |
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摘要: | 本发明公开了一种存储器测试治具、使用方法及排线跳帽,其中,所述存储器测试治具,包括多个负载卡和多个排线跳帽,所述排线跳帽通过插接的方式将所述负载卡两两连接在一起,所述排线跳帽之间通过插接的方式两两互联,使所述多个负载卡上对应的信号连接在一起。本发明实施例将负载卡的连接方式由连接排线连接,变更为排线跳帽连接,提高了操作的简便性,简化了拆卸安装操作,延长了治具使用寿命,也提高了测试准确度。 | ||
搜索关键词: | 排线 跳帽 治具 存储器测试 多个负载 负载卡 插接 测试准确度 安装操作 连接方式 连接排线 使用寿命 信号连接 简便性 拆卸 变更 互联 | ||
【主权项】:
1.一种存储器测试治具,包括多个负载卡,其特征在于,还包括多个排线跳帽,所述排线跳帽通过插接的方式将所述负载卡两两连接在一起,所述排线跳帽之间通过插接的方式两两互联,使所述多个负载卡上对应的信号连接在一起。
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