[发明专利]提升电子设备ESD性能的方法及检测装置在审

专利信息
申请号: 201811436629.5 申请日: 2018-11-28
公开(公告)号: CN109324249A 公开(公告)日: 2019-02-12
发明(设计)人: 李妹;罗杰;甘万勇;冯宇玉;张坤;许传停 申请(专利权)人: 晶晨半导体(上海)股份有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;H02H9/00
代理公司: 上海申新律师事务所 31272 代理人: 俞涤炯
地址: 201203 上海市浦东新区中国*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了提升电子设备ESD性能的方法及检测装置,属于电子技术领域。本发明根据故障类型选择相应的处理方式对目标电子设备进行相应操作,实现快速的定位目标电子设备的故障位置或故障原因的目的,从而达到提高目标电子设备的ESD性能的效果。
搜索关键词: 电子设备 目标电子设备 检测装置 电子技术领域 处理方式 定位目标 故障类型 故障位置 故障原因
【主权项】:
1.一种提升电子设备ESD性能的方法,其特征在于,包括下述步骤:识别目标电子设备的故障类型,每一故障类型对应一至少一种处理方式;根据所述故障类型选择相应的处理方式对所述目标电子设备进行相应操作。
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