[发明专利]一种探针接触精度检测方法在审

专利信息
申请号: 201811438067.8 申请日: 2018-11-27
公开(公告)号: CN109612386A 公开(公告)日: 2019-04-12
发明(设计)人: 吴少华;喻明军 申请(专利权)人: 深圳市明信测试设备有限公司
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;G01N21/95;G01R1/067
代理公司: 深圳快马专利商标事务所(普通合伙) 44362 代理人: 赵亮
地址: 518000 广东省深圳市宝*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及一种探针接触精度检测方法,通过视觉分析、软件计算,检测探针在被测PCB上留下的扎痕凹点,计算扎痕凹点与PCB测试点理论位置的偏移距离,自动判别探针与测试点的接触精度是否满足要求,并输出检测报告。本发明可实现测试夹具探针与被测PCB上测试点接触精度的自动判别/检测,提高了检测效率,避免了人为误判、漏判的可能;并且判别标准统一,检测结果可输出存档,方便追溯。另外检测过程不使用样品PCB,PCB制程公差不影响探针接触精度的判别。
搜索关键词: 探针接触 精度检测 自动判别 测试点 凹点 扎痕 检测 测试夹具探针 检测结果 检测探针 理论位置 判别标准 偏移距离 人为误判 软件计算 视觉分析 输出检测 公差 探针 制程 存档 追溯 输出 统一
【主权项】:
1.一种探针接触精度检测方法,其特征在于,所述探针接触精度检测方法步骤为S1:制作一块假板,所述假板与所需测试PCB板形状相同,所述假板上设有一层蓝膜。S2:将假板放入夹具内进行压合,探针在蓝膜上形成扎痕;S3:利用相机拍照,再配合2.5D图像处理软件,逐一分析每个探针扎痕凹点,并输出坐标位置;S4:对比输出的扎痕凹点坐标与对应PCB测试点的理论坐标,计算两者之间的距离、偏移角度/方向;S5:设定可接受的偏移距离,大于设定值的探针扎痕判定为不合格;S6:输出所有探针扎痕的偏移距离、偏移角度/方向、合格与否的检测报告。
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