[发明专利]气体簇射头、成膜设备以及用于形成半导体结构的方法有效
申请号: | 201811440405.1 | 申请日: | 2018-11-29 |
公开(公告)号: | CN110273140B | 公开(公告)日: | 2022-02-11 |
发明(设计)人: | 黄志辉;李升展;周正贤;蔡正原 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | C23C16/455 | 分类号: | C23C16/455;C23C16/44;H01L21/02 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 龚诗靖 |
地址: | 中国台湾新竹市*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 本发明实施例涉及气体簇射头、成膜设备以及用于形成半导体结构的方法。根据本发明的一些实施例,一种成膜设备包含反应室、安置于所述反应室内部并经配置以支撑衬底的底座,及在所述底座上方的气体簇射头。所述气体簇射头包含多个第一孔及安置于所述气体簇射头的圆周与所述第一孔之间的多个第二孔。所述第一孔经布置以形成第一图案且经配置以在所述衬底上形成材料膜的第一部分。所述第二孔经布置以形成第二图案且经配置以在所述衬底上形成所述材料膜的第二部分。所述第二图案的孔密度大于所述第一图案的孔密度。 | ||
搜索关键词: | 气体 簇射头 设备 以及 用于 形成 半导体 结构 方法 | ||
【主权项】:
1.一种气体簇射头,其包括:板;多个中心孔,其具有第一孔密度,所述多个中心孔安置于所述板的中心区域中且经配置以形成材料膜的第一部分;及多个周边孔,其具有大于所述第一孔密度的第二孔密度,在所述板的周边区域中,且经配置以形成所述材料膜的第二部分,其中所述材料膜的所述第一部分包括对应于所述中心区域中的所述第一孔密度的第一厚度,且所述材料膜的所述第二部分包括对应于所述周边区域中所述第二孔密度并大于所述第一厚度的第二厚度。
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C23 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
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C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的