[发明专利]气体簇射头、成膜设备以及用于形成半导体结构的方法有效

专利信息
申请号: 201811440405.1 申请日: 2018-11-29
公开(公告)号: CN110273140B 公开(公告)日: 2022-02-11
发明(设计)人: 黄志辉;李升展;周正贤;蔡正原 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: C23C16/455 分类号: C23C16/455;C23C16/44;H01L21/02
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 龚诗靖
地址: 中国台湾新竹市*** 国省代码: 台湾;71
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明实施例涉及气体簇射头、成膜设备以及用于形成半导体结构的方法。根据本发明的一些实施例,一种成膜设备包含反应室、安置于所述反应室内部并经配置以支撑衬底的底座,及在所述底座上方的气体簇射头。所述气体簇射头包含多个第一孔及安置于所述气体簇射头的圆周与所述第一孔之间的多个第二孔。所述第一孔经布置以形成第一图案且经配置以在所述衬底上形成材料膜的第一部分。所述第二孔经布置以形成第二图案且经配置以在所述衬底上形成所述材料膜的第二部分。所述第二图案的孔密度大于所述第一图案的孔密度。
搜索关键词: 气体 簇射头 设备 以及 用于 形成 半导体 结构 方法
【主权项】:
1.一种气体簇射头,其包括:板;多个中心孔,其具有第一孔密度,所述多个中心孔安置于所述板的中心区域中且经配置以形成材料膜的第一部分;及多个周边孔,其具有大于所述第一孔密度的第二孔密度,在所述板的周边区域中,且经配置以形成所述材料膜的第二部分,其中所述材料膜的所述第一部分包括对应于所述中心区域中的所述第一孔密度的第一厚度,且所述材料膜的所述第二部分包括对应于所述周边区域中所述第二孔密度并大于所述第一厚度的第二厚度。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于台湾积体电路制造股份有限公司,未经台湾积体电路制造股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201811440405.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top