[发明专利]用于集成电路的光干扰侦测方法及相应的集成电路在审
| 申请号： | 201811442515.1 | 申请日： | 2018-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN111245421A | 公开（公告）日： | 2020-06-05 |
| 发明（设计）人： | 张英辉;张行健 | 申请（专利权）人： | 御芯微电子（厦门）有限公司 |
| 主分类号： | H03K19/003 | 分类号： | H03K19/003;H03K19/20 |
| 代理公司： | 厦门市首创君合专利事务所有限公司 35204 | 代理人： | 连耀忠;李艾华 |
| 地址： | 361000 福建省*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于集成电路的光干扰侦测方法及相应的集成电路，方法包括：将包括一正反器和一二极管的电路置于所述集成电路中；所述二极管的受光面积大于所述集成电路中寄生二极管的受光面积；所述正反器的一输出端与所述二极管相连接；基于与所述二极管相连接的输出端在正反器重置后的状态，判断出光干扰侦测结果。本发明利用传统正反器与二极管组成而成进行光干扰侦测，具有简单实现的优点，可容易的整合于芯片内，由于二极管的受光面积大于寄生二极管，因此保证在一般电路受干扰改变逻辑之前，能够侦测到干扰发生，芯片可依本发明的侦测结果，来进行干扰发生后的必要处理。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 集成电路 干扰 侦测 方法 相应 | ||
【主权项】：
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