[发明专利]用于降低ECC存储器的软错误率的方法和装置在审
| 申请号： | 201811442640.2 | 申请日： | 2018-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN109669803A | 公开（公告）日： | 2019-04-23 |
| 发明（设计）人： | 张战刚;雷志锋;彭超;何玉娟;黄云;恩云飞 | 申请（专利权）人： | 中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室）） |
| 主分类号： | G06F11/10 | 分类号： | G06F11/10 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 冯右明 |
| 地址： | 510610 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及用于降低ECC存储器的软错误率的方法和装置。提供了一种用于降低ECC存储器的软错误率的方法，该方法包括：获取ECC存储器的软错误率的函数关系；根据函数关系确定ECC存储器的软错误率的初始值；判断ECC存储器的软错误率的初始值是否大于预设目标软错误率；当ECC存储器的软错误率的初始值大于预设目标软错误率时，对ECC存储器的外围电路进行加固，以使得加固后的ECC存储器的软错误率小于或等于预设目标软错误率。上述方法可指导ECC存储器的外围电路抗软错误优化设计，将外围电路加固设计程度定量化，实现既降低总体软错误率又不过度加固的目的，保证ECC存储器的软错误率达到实际工程要求。 | ||
| 搜索关键词： | 软错误率 存储器 外围电路 预设目标 方法和装置 函数关系 程度定量 实际工程 优化设计 保证 | ||
【主权项】：
1.一种用于降低ECC存储器的软错误率的方法，其特征在于，所述方法包括：获取ECC存储器的软错误率的函数关系，所述ECC存储器的软错误率为所述ECC存储器的存储区的软错误率与所述ECC存储器的外围电路的软错误率之和；根据所述函数关系确定所述ECC存储器的软错误率的初始值；判断所述ECC存储器的软错误率的初始值是否大于预设目标软错误率；当所述ECC存储器的软错误率的初始值大于所述预设目标软错误率时，对所述ECC存储器的外围电路进行加固，以使得加固后的ECC存储器的软错误率小于或等于所述预设目标软错误率。
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