[发明专利]用于降低ECC存储器的存储区实际软错误率的方法和装置有效
| 申请号： | 201811442659.7 | 申请日： | 2018-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN109669804B | 公开（公告）日： | 2022-04-19 |
| 发明（设计）人： | 张战刚;雷志锋;彭超;何玉娟;黄云;恩云飞 | 申请（专利权）人： | 中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室）） |
| 主分类号： | G06F11/10 | 分类号： | G06F11/10;G11C29/42;G06F11/34 |
| 代理公司： | 华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 冯右明 |
| 地址： | 511300 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及用于降低ECC存储器的存储区实际软错误率的方法和装置。提供了一种用于降低ECC存储器的存储区实际软错误率的方法，该方法包括：获取ECC存储器的存储区实际软错误率的函数关系；根据函数关系确定对ECC存储器的存储架构进行拆解的拆解级别k；根据拆解级别k确定对ECC存储器的存储架构进行k级拆解后的存储区的字数和单个字内的位数；根据函数关系和获得的拆解后的存储区的字数和单个字内的位数确定ECC存储器在进行k级拆解后的存储区实际软错误率。上述方法将存储区的单个字拆解为多个字，降低了ECC存储器的软错误率，有效提高了ECC存储器的存储区抗软错误能力，且增强了ECC存储器的可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 降低 ecc 存储器 存储 实际 错误率 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种用于降低ECC存储器的存储区实际软错误率的方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：获取ECC存储器的存储区实际软错误率的函数关系；根据所述函数关系确定对所述ECC存储器的存储架构进行拆解的拆解级别k，其中，k为大于等于1的整数；根据所述拆解级别k确定对ECC存储器的存储架构进行k级拆解后的存储区的字数和单个字内的位数；根据所述函数关系和获得的所述拆解后的存储区的字数和单个字内的位数确定所述ECC存储器在进行k级拆解后的存储区实际软错误率。
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