[发明专利]存储器及存储器的功能测试方法有效
| 申请号： | 201811443199.X | 申请日： | 2018-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN109712665B | 公开（公告）日： | 2020-09-15 |
| 发明（设计）人： | 郑莉 | 申请（专利权）人： | 上海安路信息科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/18 | 分类号： | G11C29/18;G11C29/56 |
| 代理公司： | 上海一平知识产权代理有限公司 31266 | 代理人： | 成春荣;须一平 |
| 地址： | 200080 上海市虹口区*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本申请涉及集成电路领域，公开了一种存储器及存储器的功能测试方法。此存储器包括具有N个独立存储块存储体、行列地址译码器、读写控制器、模式选择器和块选择器，所述存储器具有第一模式和第二模式两种工作状态，在所述模式选择器向所述读写控制器输出表示第一模式的信号时，所述读写控制器对所述块选择器选择的一个独立存储块读写数据；在所述模式选择器向所述读写控制器输出表示第二模式的信号时，所述读写控制器对所述N个独立存储块同时读写数据。在使用相同的外部测试设备及拥有相同存储容量的情况下，本申请涉及的存储器可以显著的缩短测试时间。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 功能 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种存储器，其特征在于，包括：存储体，所述存储体包括N个独立存储块，N为大于1的整数；与所述存储体连接的行列地址译码器；通过N条数据通路分别与所述N个独立存储块连接的读写控制器；具有第一、第二端口的模式选择器，所述模式选择器与所述读写控制器连接，用于选通该存储器的第一、第二模式的工作状态；以及，与所述第一端口连接的块选择器，所述块选择器用于在第一模式下，对所述N个独立存储块的地址选择；在所述模式选择器向所述读写控制器输出表示第一模式的信号时，所述读写控制器对所述块选择器选择的一个独立存储块读写数据；在所述模式选择器向所述读写控制器输出表示第二模式的信号时，所述读写控制器对所述N个独立存储块同时读写数据。
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