[发明专利]一种浅层介质结构面松散程度评价方法有效
| 申请号： | 201811458091.8 | 申请日： | 2018-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN109541690B | 公开（公告）日： | 2020-05-19 |
| 发明（设计）人： | 张邦;刘铁华;化希瑞;刘铁;林昀;崔德海;卞友艳;蔡盛;雷理;刘伟;陈洪杰;刘瑞军;赵威;肖立峰;赵晓博 | 申请（专利权）人： | 中铁第四勘察设计院集团有限公司 |
| 主分类号： | G01V1/30 | 分类号： | G01V1/30 |
| 代理公司： | 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 | 代理人： | 黄行军;王虹 |
| 地址： | 430063 湖北省*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： |
本发明涉及地质检测方法技术领域，具体地指一种浅层介质结构面松散程度评价方法。包括以下步骤：1)、沿检测或勘察的介质表面布置测点；2)、逐点激发采集每个测点处的直达波和反射波信号；3)、对信号进行数据处理，获得测点处的直达波速度和反射波速度；4)、按照如下公式计算该测点处介质结构面速度系数； |
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| 搜索关键词： | 一种 介质 结构 松散 程度 评价 方法 | ||
【主权项】：
1.一种浅层介质结构面松散程度评价方法，其特征在于：包括以下步骤：1)、沿检测或勘察的介质表面布置测点；2)、逐点激发采集每个测点处的直达波和反射波信号；3)、对信号进行数据处理，获得测点处的直达波速度和反射波速度；4)、按照如下公式计算该测点处介质结构面速度系数；![]()
其中：Cv——结构面速度系数；Vf——反射波速度；Vz——直达波速度；当结构面速度系数Cv小于a时，认为该测点处的介质为松散结构，当结构面速度系数Cv大于或等于a时，认为该测点处的介质为密实结构。
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