[发明专利]一种用N-甲基吡咯烷基丙烯酰胺制备钴(II)离子印迹复合膜的方法有效

专利信息
申请号: 201811462149.6 申请日: 2018-12-03
公开(公告)号: CN109647232B 公开(公告)日: 2021-12-31
发明(设计)人: 成会玲;胡德琼;刘迎梅;赵莉;陈树梁;谢嘉轩;字富庭;胡显智 申请(专利权)人: 昆明理工大学
主分类号: B01D71/40 分类号: B01D71/40;B01D69/02;B01D69/12;B01J20/26;B01J20/28;B01J20/30
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地址: 650093 云*** 国省代码: 云南;53
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摘要: 发明涉及一种用N‑甲基吡咯烷基丙烯酰胺制备钴(II)离子印迹复合膜的方法,属于膜材料制备科学技术领域。本发明所述方法以Co(II)为模板离子,N‑甲基吡咯烷基丙烯酰胺为功能单体,乙二醇二甲基丙烯酸酯为交联剂,偶氮二异丁腈为引发剂,通过金属离子印迹技术和膜技术相结合,制备钴(II)离子印迹复合膜Co(II)‑MICM。本发明制备得到的钴(II)离子印迹复合膜稳定性高,对钴(II)离子具有较好的特异性吸附能力和印迹效果。
搜索关键词: 一种 甲基 吡咯 烷基 丙烯酰胺 制备 ii 离子 印迹 复合 方法
【主权项】:
1.一种用N‑甲基吡咯烷基丙烯酰胺制备钴(II)离子印迹复合膜的方法,其特征在于,具体包括以下步骤:步骤(1):将钴(II)离子完全溶解在致孔溶剂中,加入N‑甲基吡咯烷基丙烯酰胺,室温振荡(2~3h)混匀,加入交联剂乙二醇二甲基丙烯酸酯和引发剂偶氮二异丁腈,摇匀,超声5~10min,形成预聚合溶液;所述钴(II)离子、N‑甲基吡咯烷基丙烯酰胺、乙二醇二甲基丙烯酸酯的摩尔比为1:(2~8):(10~50);步骤(2):将基膜置于步骤(1)得到的预聚合溶液中,室温浸泡3~30min,最后50~70℃反应12~24h,形成钴离子印迹复合膜也就是Co(II)‑MICM;步骤(3):将步骤(2)得到的钴离子印迹复合膜Co(II)‑MICM用体积比为9:1的甲醇和醋酸混合溶液洗脱模板离子,再用甲醇洗至中性,真空干燥24h得到洗脱后的钴离子印迹复合膜Co(II)‑MICM。
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