[发明专利]一种芯片内置过温迟滞保护检测电路

摘要

本发明公开了一种芯片内置过温迟滞保护检测电路，包括PTAT电压产生电路，迟滞采样电路和温度迟滞检测电路。芯片内置过温迟滞保护检测电路通过基准源产生的温度漂移，利用电阻的分压原理使迟滞采样电路在同一温度下可以输出两个不同的门限电压，而不同的温度下的基准源电压值不同，通过基本的逻辑门电路，判断是否达到过温上限，产生并输出一个带有迟滞特性的控制信号，从而在实现带迟滞特性的过温保护的同时避免产生更多的功耗。本发明的一种芯片内置过温迟滞保护检测电路解决了当前现有技术的芯片工作在非正常温度的苛刻环境造成整个集成电路损坏的技术难题。进一步保护了芯片，具备很强的实用及商用价值。

主权项

1.一种芯片内置过温迟滞保护检测电路，包括：PTAT电压产生电路，具有第一电源输入端、第二电源输入端、基准电压输出端、偏置电压输出端，其第一电源输入端接收正电源，其第二电源输入端接地，其基准电压输出端提供一个与温度无关的参考电压，其偏置电压输出端为后一级的PMOS管提供一个相同的偏置电压；迟滞采样电路，具有第一电源输入端、第二电源输入端、偏置电压输入端、第一采样输出端、第二采样输出端，其第一电源输入端接收正电源，其第二电源输入端接地，其偏置电压输入端接收PTAT电压产生电路偏置电压输出端输出的偏置电压，其第一采样输出端用于输出恢复参考电压，其第二采样输出端用于输出过温保护启动电压；温度迟滞检测电路，具有第一参考电压输入端、第二参考电压输入端、第三参考电压输入端、使能输出端，其第一参考电压输入端接收迟滞采样电路第一采样输出端输出的恢复参考电压，其第二参考电压输入端接收PTAT电压产生电路基准电压输出端输出的与温度无关的参考电压，其第三参考电压输入端接收迟滞采样电路第二采样输出端输出的过温保护启动电压，其使能输出端输出控制信号。