[发明专利]电子设备有效
申请号: | 201811468366.6 | 申请日: | 2018-12-03 |
公开(公告)号: | CN110010756B | 公开(公告)日: | 2023-05-12 |
发明(设计)人: | 李泰荣;李哉衡;郑星雄;北川英二 | 申请(专利权)人: | 爱思开海力士有限公司;铠侠股份有限公司 |
主分类号: | H10N50/80 | 分类号: | H10N50/80;H10N50/10;H10N50/85 |
代理公司: | 北京弘权知识产权代理有限公司 11363 | 代理人: | 许伟群;郭放 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: |
一种电子设备可以包括半导体存储器,该半导体存储器可以包括:第一磁性层;第二磁性层;以及间隔层,其介于第一磁性层与第二磁性层之间,其中,间隔层包括第一层、第二层以及介于第一层与第二层之间的中间层,其中,第一层和第二层中的每个层包括氧化物或氮化物,或者氧化物与氮化物的组合,中间层包括包含[Ru/x] |
||
搜索关键词: | 电子设备 | ||
【主权项】:
1.一种电子设备,其包括半导体存储器,其中,所述半导体存储器包括:第一磁性层;第二磁性层;以及间隔层,其介于所述第一磁性层与所述第二磁性层之间,其中,所述间隔层包括第一层、第二层以及介于所述第一层与所述第二层之间的中间层,其中,所述第一层和所述第二层中的每个层包括氧化物或氮化物,或者氧化物与氮化物的组合,所述中间层包括包含[Ru/x]n或[x/Ru]n的多层结构,其中x包括金属、氧化物或氮化物,或者金属、氧化物和氮化物的组合,且其中n表示1或更大的整数。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于爱思开海力士有限公司;铠侠股份有限公司,未经爱思开海力士有限公司;铠侠股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201811468366.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。