[发明专利]一种FIB-TIMS测量含铀微粒同位素比的方法在审
申请号: | 201811471547.4 | 申请日: | 2018-12-04 |
公开(公告)号: | CN109342481A | 公开(公告)日: | 2019-02-15 |
发明(设计)人: | 熊鹏辉;王丽萍;孟宪东;张凌;吴昊曦;许杰;陈禄敏;秦震;魏兴俭 | 申请(专利权)人: | 中国工程物理研究院材料研究所 |
主分类号: | G01N23/2251 | 分类号: | G01N23/2251;G01N23/2208;G01N27/62 |
代理公司: | 成都天既明专利代理事务所(特殊普通合伙) 51259 | 代理人: | 李钦 |
地址: | 621000 四*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明公开了一种FIB‑TIMS测量含铀微粒的同位素比的方法,解决了现有技术存在的流程复杂、耗时长,样品易损失,结果精密度差等问题。首先,通过聚焦离子束的SEM和EDS功能鉴定、定位含铀微粒;然后,通过聚焦离子束的微操作臂控制钨针将含铀微粒转移至铼灯丝上,通过离子束沉积技术将含铀微粒焊接固定在铼灯丝上,最后,再利用热电离质谱对含铀微粒的同位素比进行测量。该方法将含铀微粒样品固定在铼灯丝表面,可直接对含铀微粒的固体样品进行分析,前处理方法简单快捷,稳定可靠,对样品的利用率高,避免了试剂污染和样品损失,且分析结果的准确度和精密度高,可分析包括235U/238U、234U/238U、236U/238U在内的铀同位素比。 | ||
搜索关键词: | 同位素比 聚焦离子束 测量 灯丝 离子束沉积 热电离质谱 准确度 灯丝表面 功能鉴定 固体样品 焊接固定 试剂污染 微粒样品 样品损失 铀同位素 前处理 微操作 再利用 钨针 耗时 分析 | ||
【主权项】:
1.一种FIB‑TIMS测量含铀微粒同位素比的方法,其特征在于包括如下步骤:步骤一、将包含含铀微粒的样品经过分散剂超声分散,并将分散后的样品通过移液器转移至载片上;步骤二、将步骤一中的载片和铼灯丝放置在聚焦离子束仪器的样品台表面,通过聚焦离子束的SEM功能寻找载体片上的微粒对微粒进行定位,再通过聚焦离子束的EDS功能对定位后的微粒进行元素组成的鉴定,确定含铀微粒;步骤三、通过FIB的微操作臂控制钨针将单个含铀微粒转移至铼灯丝的表面居中位置,含铀微粒通过离子沉积方法与铼灯丝表面焊接固定;步骤四,将铼灯丝焊接在灯丝支架上,并整体装入在热电离质谱的样品盘,通过热电离质谱法和信号接收器对含铀微粒的同位素比进行测量。
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