[发明专利]阵列基板的测试方法、装置及存储介质有效
| 申请号： | 201811483443.5 | 申请日： | 2018-12-05 |
| 公开（公告）号： | CN109637405B | 公开（公告）日： | 2021-04-06 |
| 发明（设计）人： | 林佩欣 | 申请（专利权）人： | 惠科股份有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00 |
| 代理公司： | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 | 代理人： | 胡海国 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安区石岩街道水田村民*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种阵列基板的测试方法，包括以下步骤：根据固化垫电路在测试电路板中的排布顺序，依次对所述固化垫电路施加固化驱动信号，所述固化垫电路连接有至少两块阵列基板；通过所述固化驱动信号对所述固化垫电路中的阵列基板进行阵列测试。本发明还公开了一种阵列基板的测试装置以及计算机可读存储介质。本发明通过实现一次阵列测试信号至少测试两块阵列基板，提高了对阵列基板进行阵列测试的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 阵列 测试 方法 装置 存储 介质 | ||
【主权项】：
1.一种阵列基板的测试方法，其特征在于，所述阵列基板的测试方法包括以下步骤：根据固化垫电路在测试电路板中的排布顺序，依次对所述固化垫电路施加固化驱动信号，所述固化垫电路连接有至少两块阵列基板；通过所述固化驱动信号对所述固化垫电路中的阵列基板进行阵列测试。
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