[发明专利]内嵌式金属网栅的电磁屏蔽光学窗制备方法有效

专利信息
申请号: 201811485879.8 申请日: 2018-12-06
公开(公告)号: CN109652774B 公开(公告)日: 2020-07-28
发明(设计)人: 尚鹏;刘华松;庄克文;季一勤;邢宇哲 申请(专利权)人: 天津津航技术物理研究所
主分类号: C23C14/30 分类号: C23C14/30;C23C14/08;C23C14/18;C23C14/58;H05K9/00
代理公司: 中国兵器工业集团公司专利中心 11011 代理人: 周恒
地址: 300308 天津*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明属于电磁屏蔽实现技术领域,具体涉及一种内嵌式金属网栅的电磁屏蔽光学窗制备方法。该方法包含:(1)通过物理和化学方法清洗光学窗表面;(2)采用电子束蒸发方法生长制备Y2O3薄膜;(3)热处理镀膜后的光学窗口,使薄膜表面产生随机分布的网状裂纹;(4)在开裂的薄膜表面沉积金属薄膜;(5)采用等离子体大角度倾斜刻蚀方法,通过控制倾斜刻蚀时间,有效去除基底表面金属层,仅保留裂纹内部嵌入的金属材料。该方法不但适应平面光学窗,而且可以在曲面光学窗表面实现可见、或红外电磁屏蔽效果,在遥感遥测、航天航空、移动通信等军事和民用领域具有广泛应用前景。
搜索关键词: 内嵌式 金属网 电磁 屏蔽 光学 制备 方法
【主权项】:
1.一种内嵌式金属网栅的电磁屏蔽光学窗制备方法,其特征在于,所述方法包括如下步骤:步骤1:在光学窗上生长制备Y2O3薄膜;步骤2:热处理镀膜后的光学窗,使Y2O3薄膜表面产生随机分布的网状裂纹;步骤3:在开裂的薄膜表面沉积金属膜,使沉积金属材料嵌入网状裂纹内;步骤4:采用等离子体大角度倾斜刻蚀方法,通过控制作用时间,去除基底表面金属层,仅保留裂纹内部嵌入的金属材料。
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