[发明专利]一种高效检测导电薄膜质量的方法在审

专利信息
申请号: 201811491156.9 申请日: 2018-12-07
公开(公告)号: CN111289566A 公开(公告)日: 2020-06-16
发明(设计)人: 李红英;赵辉 申请(专利权)人: 中南大学
主分类号: G01N27/00 分类号: G01N27/00;G01N27/02;G01N27/04
代理公司: 长沙市融智专利事务所(普通合伙) 43114 代理人: 蒋太炜
地址: 410083 湖南*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明涉及一种高效检测导电薄膜质量的方法,属于材料质量检测技术领域。所述方法为:连续采集导电薄膜的信息,根据采集的信息和计算出的信息参数来判定导电薄膜的质量;所述信息包括但不限于电压、电流、位置,所述信息是连续信息;所述信息参数选自电压、电阻、电阻率、导电率、电导率中的一种或多种;将所获实际信息参数与标准信息参数进行比对,当|实际信息参数‑标准信息参数|/标准信息参数大于等于缺陷判断阈值时,判定所获实际信息参数对应区域存在缺陷,当|实际信息参数‑标准信息参数|/标准信息参数小于缺陷判断阈值时,则判定所获实际信息参数对应区域质量合格;检测时,检测装置和导电薄膜可以相对运动。
搜索关键词: 一种 高效 检测 导电 薄膜 质量 方法
【主权项】:
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