[发明专利]一种快速测定瓷砖外照射剂量基片制备方法及应用在审
申请号: | 201811493044.7 | 申请日: | 2018-12-11 |
公开(公告)号: | CN111076991A | 公开(公告)日: | 2020-04-28 |
发明(设计)人: | 李强;唐奇;吴飞翔;顾晓朦;廖丽肖;尹水龙 | 申请(专利权)人: | 广东特地陶瓷有限公司 |
主分类号: | G01N1/28 | 分类号: | G01N1/28 |
代理公司: | 佛山东平知识产权事务所(普通合伙) 44307 | 代理人: | 詹仲国 |
地址: | 528000 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明涉及一种建筑材料领域,特别是可以快速测定瓷砖外照射剂量的基片,用于在线检测瓷砖的放射性指标中外照射指数,同时也涉及其具体的制备方法和具体使用方法。目前陶瓷建材均执行A类放射性标准,传统的检测方法是在生产后期送专业的质检部门,采用低本底多道γ能谱仪进行放射性的检测,但这种方法往往缺乏时效性,通常一批产品已经生产完毕,才能发现检测问题。本发明提供的可快速测定瓷砖外照射剂量基片,通过对比基片同标准要求剂量的方法实现快速检测瓷砖的外照射指数,可实现在线对瓷砖外照射指数的简易测量和监测,实现安全生产的目的,基准片制备方法制作简单、易于实现,成本低廉,使用方法简单可行,有利于在建筑陶瓷行业推广使用。 | ||
搜索关键词: | 一种 快速 测定 瓷砖 照射 剂量 制备 方法 应用 | ||
【主权项】:
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