[发明专利]一种八英寸红外探测器封装窗口及其制备方法有效
申请号: | 201811493070.X | 申请日: | 2018-12-10 |
公开(公告)号: | CN110148571B | 公开(公告)日: | 2022-03-11 |
发明(设计)人: | 赵中亮 | 申请(专利权)人: | 上海欧菲尔光电技术有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/68 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 200434 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种八英寸光学封装窗口的设计和制备方法,该晶圆级封装窗口主要用于非制冷型红外焦平面探测器,晶圆表面均匀分布着封装窗口单元阵列,该阵列与另一晶圆上探测器芯片的数量和位置一一对应。本发明中晶圆封装窗口包括八英寸硅晶圆基底、封装窗口单元和对准标记;所述封装窗口单元包括镀制在基底第一表面的光学薄膜、金属封装层、吸气剂、金属封装层上的焊料层以及镀制在基底第二表面的光学薄膜。本发明还阐明了上述晶圆级封装窗口的制备方法。本发明中描述的八英寸晶圆封装窗口上面刻有对准标记,可以与八英寸探测器芯片晶圆实现晶圆级封装,然后通过激光隐形切割裂片,这种生产方式可适用于红外探测器的大规模量产。 | ||
搜索关键词: | 一种 英寸 红外探测器 封装 窗口 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
1.一种八英寸红外探测器封装窗口,其特征在于:包括八英寸硅晶圆基底、封装窗口单元和对准标记;所述封装窗口单元与另一个晶圆上探测器芯片的数量和位置一一对应;封装窗口单元包括光学薄膜层、吸气剂层、金属封装层、焊料层;所述硅晶圆基底双面抛光,光学薄膜层、吸气剂层、金属封装层在硅晶圆第一表面镀制而成,所述焊料层在金属封装层表面上镀制而成。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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