[发明专利]测试存储系统读写性能的方法、装置、设备及介质有效
| 申请号： | 201811504751.1 | 申请日： | 2018-12-10 |
| 公开（公告）号： | CN109582521B | 公开（公告）日： | 2022-04-29 |
| 发明（设计）人： | 安祥文 | 申请（专利权）人： | 浪潮（北京）电子信息产业有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 罗满 |
| 地址： | 100085 北京市海*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测试存储系统读写性能的方法，根据预先设置的码流路数，创建对应数量的读取线程数及写入线程数，每一个线程对应一路文件；根据预先设置的存储系统读写参数，确定单次读写操作的最大时延阈值；分别判断每个线程的当前时延是否超过所述最大时延阈值；如果是，则判定所述存储系统的读写性能存在丢帧；如果否，则判定所述存储系统的读写性能不存在丢帧。本申请通过预设的码流路数创建线程数，并根据预设读写参数确定最大时延阈值，用于判断是否存在丢帧，从而实现存储系统的性能测试。此外，本申请还公开了一种测试存储系统读写性能的装置、设备和一种计算机可读存储介质，同样能实现上述技术效果。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 存储系统 读写 性能 方法 装置 设备 介质 | ||
【主权项】：
1.一种测试存储系统读写性能的方法，其特征在于，包括：根据预先设置的码流路数，创建对应数量的读取线程数及写入线程数，每一个线程对应一路文件；根据预先设置的存储系统读写参数，确定单次读写操作的最大时延阈值；分别判断每个线程的当前时延是否超过所述最大时延阈值；如果是，则判定所述存储系统的读写性能存在丢帧；如果否，则判定所述存储系统的读写性能不存在丢帧。
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