[发明专利]涂层检测方法、装置以及计算机存储介质有效
| 申请号： | 201811505043.X | 申请日： | 2018-12-10 |
| 公开（公告）号： | CN109613122B | 公开（公告）日： | 2022-03-22 |
| 发明（设计）人： | 尹逸彬;马时寅;张永锋;居尔林;陈家楠;潘首成;王震宇;赵震;周峰;高瞰;邢奇 | 申请（专利权）人： | 上海汽车集团股份有限公司;上汽大众汽车有限公司 |
| 主分类号： | G01N29/11 | 分类号： | G01N29/11;G01N29/44 |
| 代理公司： | 北京信远达知识产权代理有限公司 11304 | 代理人： | 魏晓波 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新区*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种涂层检测方法、装置以及计算机存储介质，其中涂层检测方法包括：向待测涂层发送检测超声波；接收所述待测涂层反馈的样本超声波；根据所述样本超声波生成所述样本超声波的衰减曲线；将所述样本超声波的衰减曲线与预设的标准曲线偏差范围进行对比，判断所述待测涂层是否合格。采用上述方案，避免了对涂层的损耗，实现无损检测涂层状态。 | ||
| 搜索关键词： | 涂层 检测 方法 装置 以及 计算机 存储 介质 | ||
【主权项】：
1.一种涂层检测方法，其特征在于，包括：令超声波传感器向设置于材料间隔内的待测涂层发送检测超声波；获取所述超声波传感器接收的所述待测涂层反馈的样本超声波；根据所述样本超声波生成所述样本超声波的衰减曲线；根据所述材料以及所述待测涂层确定标准曲线偏差范围，将所述样本超声波的衰减曲线与所述标准曲线偏差范围进行对比，判断所述待测涂层是否合格。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海汽车集团股份有限公司;上汽大众汽车有限公司，未经上海汽车集团股份有限公司;上汽大众汽车有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201811505043.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
