[发明专利]X射线透视摄影装置有效
| 申请号： | 201811510215.2 | 申请日： | 2018-12-11 |
| 公开（公告）号： | CN109893149B | 公开（公告）日： | 2023-05-16 |
| 发明（设计）人： | 加治木骏介 | 申请（专利权）人： | 株式会社岛津制作所 |
| 主分类号： | A61B6/00 | 分类号： | A61B6/00 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种X射线透视摄影装置。在该X射线透视摄影装置中，图像处理部构成为：基于针对伪影延伸方向的列中包括的多个像素的平均差亮度值，来进行从X射线图像中去除带状伪影的图像处理，由此校正X射线图像。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 透视 摄影 装置 | ||
【主权项】：
1.一种X射线透视摄影装置，具备：照射部，其向被检体照射X射线；检测部，其对照射到所述被检体的X射线进行检测；图像处理部，其基于由所述检测部检测出的X射线检测信号来生成X射线图像；以及运算部，其针对每个像素计算所述X射线图像间的亮度值的差、即差亮度值，并且针对所述X射线图像中产生的带状伪影延伸的伪影延伸方向的列中包括的多个像素，计算对所述X射线图像间的所述差亮度值进行平均而得到的平均差亮度值，其中，所述图像处理部构成为，基于所述平均差亮度值进行从所述X射线图像中去除所述带状伪影的图像处理，由此校正所述X射线图像。
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