[发明专利]一种预防GIS设备温度过热的评估方法有效

专利信息
申请号: 201811514856.5 申请日: 2018-12-12
公开(公告)号: CN109459639B 公开(公告)日: 2021-02-02
发明(设计)人: 邓云坤;戴铭磊;彭晶;赵虎;李兴文;王达达;马仪;王科;张少泉;陈晓云 申请(专利权)人: 云南电网有限责任公司电力科学研究院
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01K13/00;G01J5/00
代理公司: 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 代理人: 逯长明;许伟群
地址: 650217 云南省昆*** 国省代码: 云南;53
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摘要: 本申请提供了一种预防GIS设备温度过热的评估方法,该方法提高了对GIS设备导体测温的准确度,减少红外测温方法受金属表面发射率和对红外线吸收的干扰以及电子测温受电磁干扰所带来的误差,通过三种测量方法的综合,大幅度提高了测量的可信度,从而预防GIS设备的导体温度过热的隐患,提升了GIS设备的安全稳定运行能力。并且该方法简单易操作,能够测量GIS内部多部位的实时温度,提升了GIS内部各个结构的安全性。
搜索关键词: 一种 预防 gis 设备 温度 过热 评估 方法
【主权项】:
1.一种预防GIS设备温度过热的评估方法,其特征在于,所述方法包括:步骤101:根据边界条件,利用耦合测温法,得到耦合测温矩阵;所述边界条件包括恒温边界条件、辐射边界条件和速度边界条件;步骤102:根据预设波长λ1和λ2的辐射功率,利用红外测温法,得到红外测温矩阵;步骤103:根据多个热敏传感器在GIS设备中的电子测量温度值,利用电子测温法,得到电测测温矩阵;步骤104:将所述耦合测量温度矩阵、红外测量温度矩阵和电子测量温度矩阵合并,得到总温度矩阵;步骤105:计算所述总温度矩阵的方差;步骤106:若所述方差大于或等于预设阈值,则跳转至步骤107;若所述方差小于预设阈值,则跳转至步骤102;步骤107:获取红外测温影响系数、电子测温影响系数和耦合测量影响系数;步骤108:计算所述红外测温影响系数、电子测温影响系数和耦合测量影响系数的比值,得到判别矩阵;步骤109:根据所述判别矩阵,计算得到检验系数;步骤110:若所述检验系数大于或等于预设检验系数,则跳转至步骤111;若检验系数小于预设检验系数,则跳转至步骤107;步骤111:根据所述判别矩阵,计算得到所述GIS设备的导体温度值;步骤112:根据所述GIS设备的导体温度值,采取对应的预防策略。
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