[发明专利]一种分布式集中管理系统在审
| 申请号： | 201811531859.X | 申请日： | 2018-12-14 |
| 公开（公告）号： | CN109786291A | 公开（公告）日： | 2019-05-21 |
| 发明（设计）人： | 许文磊;宋小飞 | 申请（专利权）人： | 苏州诺威特测控科技有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/67 | 分类号： | H01L21/67;H01L31/18 |
| 代理公司： | 苏州国卓知识产权代理有限公司 32331 | 代理人： | 董慧婷 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州市*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种分布式集中管理系统，用来解决光伏组件产线端的EL检测实现自动识别的问题，属于光伏组件检测技术领域。该分布式集中管理系统通过对光伏组件在层压机层压检测前后进行EL智能检测并通过EL智能检测复核来快速对光伏组件进行筛选排查，达到了对光伏组件的快速检测的目的；本系统通过自动识别算法，由CMS对单条产线的组件缺陷完成自动识别，再由车间终端对于整个车间的不合格图片进行二次复核，可减少EL检测端75%及以上人工，节省了人工，提高了检测效率。总之，该分布式集中管理系统的使用提高了检测的准确性，减轻了工人的劳动强度和数量，提高了光伏组件的检测效率。 | ||
| 搜索关键词： | 分布式集中管理 光伏组件 检测 智能检测 自动识别 产线 复核 检测技术领域 自动识别算法 车间 快速检测 层压机 检测端 层压 单条 排查 终端 筛选 图片 | ||
【主权项】：
1.一种分布式集中管理系统，其特征在于，其步骤为：（1）、首先，光伏组件经过层前EL智能检测；（2）、经过层前EL智能检测合格的产品送入层压机层压；经过层前EL智能检测不合格的产品经过层前EL复核后送去返修，层前EL复核的结果传送给服务器，返修后的光伏组件再次进入层前EL智能检测；（3）、合格的光伏组件经过层压机层压后依次经过层前EL智能检测和层后EL复核，层后EL复核的结果传送给服务器。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
