[发明专利]基于快速傅里叶变换和线性高斯的口罩检测系统及方法有效

专利信息
申请号: 201811532461.8 申请日: 2018-12-14
公开(公告)号: CN109507198B 公开(公告)日: 2021-12-07
发明(设计)人: 张佳琳;刘遥峰;蒋振东;张衡;杨政 申请(专利权)人: 航天科工智能机器人有限责任公司
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88
代理公司: 北京鼎承知识产权代理有限公司 11551 代理人: 韩德凯;李伟波
地址: 100074 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本公开提供一种基于快速傅里叶变换和线性高斯的口罩检测系统,包括:图像采集装置,采集待测口罩的图像;读取装置,读取采集的待测口罩图像,以及读取口罩模板文件和靶标标定参数;以及检测装置,基于读取结果,检测待测口罩尺寸、口罩耳带长度、口罩内铝条长度,口罩排牙缺陷,以及口罩表面污渍;其中,检测装置通过快速傅里叶变换去除待测口罩图像上的背景压花纹理,基于去除了背景压花纹理的待测口罩图像信息,检测装置通过线性高斯算法检测口罩表面污渍;本公开同时提供一种采用基于快速傅里叶变换和线性高斯的口罩检测系统对口罩进行检测的方法。
搜索关键词: 基于 快速 傅里叶变换 线性 口罩 检测 系统 方法
【主权项】:
1.基于快速傅里叶变换和线性高斯的口罩检测系统,其特征在于,包括:图像采集装置,采集待测口罩的图像;读取装置,读取采集的待测口罩图像,以及读取口罩模板文件和靶标标定参数;以及检测装置,基于读取结果,检测待测口罩尺寸、口罩耳带长度、口罩内铝条长度,口罩排牙缺陷,以及口罩表面污渍;其中,所述检测装置通过快速傅里叶变换去除所述待测口罩图像上的背景压花纹理,基于去除了背景压花纹理的待测口罩图像信息,所述检测装置通过线性高斯算法检测口罩表面污渍。
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