[发明专利]测试系统、存储器的测试方法及测试装置

摘要

本公开提供一种测试系统、存储器的测试方法及测试装置，涉及半导体技术领域。该测试方法包括：根据存储器的一存储块的多个运行状态和每个运行状态下能够执行的指令建立状态机；根据状态机的当前运行状态确定与当前运行状态对应的多个候选指令；确定当前时刻与一初始时刻间的运行时间；从各候选指令中随机选择一候选指令作为目标指令，并根据目标指令更新当前运行状态，直至运行时间达到预设值；根据所有目标指令生成一指令序列；确定指令序列中各目标指令在所有指令中的覆盖率；在覆盖率达到一阈值时，根据指令序列生成执行文件；通过测试机对存储器执行执行文件。