[发明专利]一种测量部分相干复宗量拉盖尔高斯光束拓扑荷数的方法在审
| 申请号： | 201811535270.7 | 申请日： | 2018-12-14 |
| 公开（公告）号： | CN109489836A | 公开（公告）日： | 2019-03-19 |
| 发明（设计）人： | 杨元杰;董淼;赵琦 | 申请（专利权）人： | 电子科技大学 |
| 主分类号： | G01J9/02 | 分类号： | G01J9/02 |
| 代理公司： | 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 | 代理人： | 苗艳荣 |
| 地址： | 611731 四川省*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测量部分相干复宗量拉盖尔高斯光束拓扑荷数的方法，属于光学测量技术领域。该方法包括以下步骤：S1，利用部分相干复宗量拉盖尔高斯光束产生装置生成部分相干复宗量拉盖尔高斯光束；S2，利用交叉关联函数产生装置得到干涉光束；S3，利用观察装置对干涉图样进行记录、观察，得到部分相干复宗量拉盖尔高斯光束的拓扑荷数。本发明的方法填补了目前无法测量部分相干复宗量拉盖尔高斯光束拓扑荷数的技术空白。测量方法简单，直观，无需数据处理即可观察得到。 | ||
| 搜索关键词： | 拉盖尔高斯光束 相干 拓扑 测量 产生装置 光学测量技术 交叉关联函数 干涉光束 干涉图样 观察装置 技术空白 数据处理 观察 直观 填补 记录 | ||
【主权项】：
1.一种测量部分相干复宗量拉盖尔高斯光束拓扑荷数的方法，其特征在于，包括以下步骤：S1，利用部分相干复宗量拉盖尔高斯光束产生装置(110)生成部分相干复宗量拉盖尔高斯光束；S2，利用交叉关联函数产生装置(220)得到干涉光束；S3，利用观察装置(330)对干涉图样进行记录、观察，得到部分相干复宗量拉盖尔高斯光束的拓扑荷数。
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