[发明专利]一种基于磁纳米粒子的双差分温度测量方法有效
| 申请号： | 201811542175.X | 申请日： | 2018-12-17 |
| 公开（公告）号： | CN109506805B | 公开（公告）日： | 2019-09-27 |
| 发明（设计）人： | 程文祥;张朴;刘文中;程晶晶 | 申请（专利权）人： | 华中科技大学 |
| 主分类号： | G01K7/36 | 分类号： | G01K7/36 |
| 代理公司： | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人： | 曹葆青;李智 |
| 地址： | 430074 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明的双差分温度测量方法，通过采用均由两个单线圈反向连接组成的两组差分探测线圈分别感应所述待测磁纳米粒子和参考磁纳米粒子的磁化强度，实现一次差分，减少了背景噪声和激励磁场剩磁的影响；同时，本发明的双差分温度测量方法，通过将两组差分探测线圈反向连接，组成双差分探测线圈，实现二次差分，获得只是由温度变化引起的磁化强度的微小变化，且这种微小信号更容易放大较高的倍数，减少了环境变化，特别是突然出现的环境磁场扰动对磁化强度变化带来的影响，从而实现了温度的精确测量。 | ||
| 搜索关键词： | 探测线圈 温度测量 磁化 磁纳米粒子 反向连接 两组 磁化强度变化 背景噪声 环境变化 环境磁场 激励磁场 纳米粒子 微小变化 微小信号 单线圈 扰动 测磁 放大 测量 参考 | ||
【主权项】：
1.一种基于磁纳米粒子的双差分温度测量方法，其特征在于，包括：(1)取两份型号相同、重量一致的待测磁纳米粒子和参考磁纳米粒子，同时选取处于同一环境和同一初始温度T0下的待测点和参考点，并将所述待测磁纳米粒子放于所述待测点处，将所述参考磁纳米粒子放于所述参考点处；(2)对所述待测点和参考点所在区域施加交流激励磁场H(t)；(3)加热所述待测磁纳米粒子，使所述待测磁纳米粒子和参考磁纳米粒子之间产生温度差ΔT；(4)采用两对相同的差分探测线圈分别感应所述待测磁纳米粒子和参考磁纳米粒子在所述激励磁场下的磁化强度信号，并将两对差分线圈反向连接从而获得所述磁化强度信号的差分信号ΔM；(5)提取所述ΔM的一次谐波幅值信息ΔA；(6)将所述ΔA代入预先拟合的一次谐波幅值变化量‑温度变化量曲线中，求出ΔT，由于初始温度T0已知，从而得到所述待测磁纳米粒子经过加热后的温度。
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