[发明专利]半导体器件和检测其旋转异常的方法有效

专利信息
申请号: 201811548466.X 申请日: 2018-12-18
公开(公告)号: CN110031228B 公开(公告)日: 2022-10-04
发明(设计)人: 渡边久晃 申请(专利权)人: 瑞萨电子株式会社
主分类号: G01M15/00 分类号: G01M15/00;G01B7/30;G01H17/00
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 李辉;董典红
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 本申请涉及半导体器件和检测其旋转异常的方法。传统的半导体器件需要使用单独的振动传感器等来检测电动机的旋转异常。根据一个实施例,一种半导体器件包括:解角器旋转角度转换电路,其从测量电动机的旋转角度的解角器获得表示所述电动机的旋转角度的旋转角度信号,并通过将所述旋转角度信号转换为数字值来生成旋转角度信息;电动机旋转角度转换电路,其通过将关于所述电动机的每个相的旋转角度信息转换为电动机的角度变化来生成旋转角度时间变化信息;以及确定电路,其在旋转角度时间变化信息中的旋转角度时间变化超过波动异常检测范围的情况下确定在所述电动机中发生异常。
搜索关键词: 半导体器件 检测 旋转 异常 方法
【主权项】:
1.一种半导体器件,包括:解角器旋转角度转换电路,其从测量电动机的旋转角度的解角器获得表示所述电动机的旋转角度的旋转角度信号,并且通过转换旋转生成旋转角度信息;电动机旋转角度转换电路,其通过将关于所述电动机的每个相的所述旋转角度信息转换为所述电动机的旋转一周的角度变化,来生成旋转角度时间变化信息,以及确定电路,其在所述旋转角度时间变化信息中的旋转角度时间变化超过异常检测范围的情况下确定在所述电动机中发生异常。
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