[发明专利]一种适用于低品位金矿化区内金赋存状态的综合鉴定方法在审
| 申请号： | 201811550099.7 | 申请日： | 2018-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN109632794A | 公开（公告）日： | 2019-04-16 |
| 发明（设计）人： | 张松;高洪雷;田明明;李平;孔维豪 | 申请（专利权）人： | 核工业北京地质研究院 |
| 主分类号： | G01N21/84 | 分类号： | G01N21/84 |
| 代理公司： | 核工业专利中心 11007 | 代理人： | 闫兆梅 |
| 地址： | 100029 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明属于矿产勘查技术领域，具体涉及一种适用于低品位金矿化区内金赋存状态的综合鉴定方法。本发明包括以下步骤：步骤1、矿化样品的系统采样与分析；步骤2、镜下鉴定样品的制备；步骤3、显微镜下查找金矿物并初步确定含金的矿物种类；步骤4、电子探针确定金矿物的确切名称及金赋存状态。本发明能够识别金矿物的种类、确定金矿化的类型、明确金元素的赋存状态。 | ||
| 搜索关键词： | 金矿物 金矿 低品位 电子探针 矿产勘查 矿化样品 金元素 采样 矿物 显微镜 制备 查找 分析 | ||
【主权项】：
1.一种适用于低品位金矿化区内金赋存状态的综合鉴定方法，其特征在于：包括以下步骤：步骤(1)、矿化样品的系统采样与分析；步骤(2)、镜下鉴定样品的制备；步骤(3)、显微镜下查找金矿物并初步确定含金的矿物种类；步骤(4)、电子探针确定金矿物的确切名称及金赋存状态。
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