[发明专利]一种基于算法恢复的差分共聚焦显微成像方法和装置有效
申请号: | 201811561042.7 | 申请日: | 2018-12-20 |
公开(公告)号: | CN109557653B | 公开(公告)日: | 2021-06-29 |
发明(设计)人: | 匡翠方;王晓娜;黎文柔;刘旭;李海峰 | 申请(专利权)人: | 浙江大学 |
主分类号: | G02B21/00 | 分类号: | G02B21/00;G02B27/00 |
代理公司: | 杭州天勤知识产权代理有限公司 33224 | 代理人: | 胡红娟 |
地址: | 310013 浙江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于算法恢复的差分共聚焦显微成像方法和装置,属于光学成像技术领域,通过普通的共聚焦显微技术对样品进行成像,得到样品在轴向位置的第一幅二维图像;然后,对入射的光束进行相位调制,得到中空的光束,使用中空的光束对样品进行共聚焦成像,得到该轴向位置的第二幅二维图像。然后使用盲卷积的算法,将两幅图像恢复。通过一个较小的相减系数,从恢复后图像减去第二幅图像,得到一个具有很小的负值较小的相减结果,将结果中的负值进行归零之后,可以得到该轴向位置的二维图像的最终结果。随后,改变成像的轴向位置,得到多幅二维图像,对这些图像进行三维重构。相减后产生的负值较小,减少了由于负值归零造成的有效信息的丢失。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 算法 恢复 差分共 聚焦 显微 成像 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种基于算法恢复的差分共聚焦显微成像方法,其特征在于,包括以下步骤:1)激光光束进入共聚焦荧光显微镜光路中,通过振镜对样品进行轴向扫描,对样品各扫描位置进行成像,得到样品的二维共聚焦成像结果Iconfocal;2)在共聚焦荧光显微镜的照明光路中,对激光光束进行相位调制,在垂直于光轴的截面上形成中空光斑,利用步骤1)的方法得到样品的二维中空光束成像结果Idonut;3)使用盲卷积算法对二维共聚焦成像结果Iconfocal和二维中空光束成像结果Idonut进行恢复,得到恢复后的图像Irestored;4)使用相减系数αs,从图像Irestored中减去中空光束成像结果Idonut,并将得到的结果中的负值归零,得到最终二维图像Ifinal,即5)控制共聚焦荧光显微镜的物镜以一定的步长沿光轴移动,在每一个移动位置重复步骤1)~4),得到相应移动位置的最终二维图像;6)将步骤5)中所有移动位置的最终二维成像结果进行三维重构,得到样品的三维成像结果。
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