[发明专利]一种用于矫正塑封平板翘曲的半导体装置及矫正方法在审
申请号: | 201811562108.4 | 申请日: | 2018-12-19 |
公开(公告)号: | CN109801859A | 公开(公告)日: | 2019-05-24 |
发明(设计)人: | 姚大平 | 申请(专利权)人: | 华进半导体封装先导技术研发中心有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/683 |
代理公司: | 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 | 代理人: | 朱静谦 |
地址: | 214135 江苏省无锡市新*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明涉及集成电路先进封装技术领域,具体涉及一种用于矫正包含集成电路芯片的塑封平板翘曲的半导体装置及矫正方法。其中半导体装置包括:承载结构,包括用于承载塑封平板的承载区,承载区为平面设置;真空通道,设于承载结构上,且与承载区连通设置,用于对塑封平板和承载区之间的间隙施加真空;压制结构,设置于承载结构上方且沿垂直于承载区方向往返移动,压制结构具有与塑封平板对应设置且用于对塑封平板无裸露芯片处施加矫正压力的压制端,压制端与塑封平板的接触面为平面;加热结构,设于承载结构和/或压制结构上,用于对塑封平板加热升温。本发明的半导体装置在矫正时不容易损坏裸露芯片且矫正效果好。 | ||
搜索关键词: | 塑封 矫正 承载区 半导体装置 承载结构 压制结构 压制端 翘曲 裸露 施加 芯片 集成电路芯片 先进封装技术 加热结构 加热升温 连通设置 平面设置 往返移动 真空通道 集成电路 承载 垂直 | ||
【主权项】:
1.用于矫正包含集成电路芯片的塑封平板翘曲的半导体装置,其特征在于,包括:承载结构(3),包括用于承载所述塑封平板(5)的承载区,所述承载区为平面设置;真空通道,设于所述承载结构(3)上,且与所述承载区连通设置,用于对所述塑封平板(5)和所述承载区之间的间隙施加真空;压制结构,设置于所述承载结构(3)上方且沿垂直于所述承载区方向往返移动,所述压制结构具有与所述塑封平板(5)对应设置且用于对所述塑封平板(5)无裸露芯片处施加矫正压力的压制端(4),所述压制端(4)与所述塑封平板(5)的接触面为平面;加热结构,设于所述承载结构(3)和/或所述压制结构上,用于对所述塑封平板(5)加热升温。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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