[发明专利]用于夹持塑封晶圆的固定装置及真空溅射金属薄膜工艺有效
申请号: | 201811562109.9 | 申请日: | 2018-12-19 |
公开(公告)号: | CN109786314B | 公开(公告)日: | 2021-07-27 |
发明(设计)人: | 姚大平 | 申请(专利权)人: | 华进半导体封装先导技术研发中心有限公司 |
主分类号: | H01L21/687 | 分类号: | H01L21/687;H01L21/683;H01L21/48;C23C14/16;C23C14/34;C23C14/50 |
代理公司: | 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 | 代理人: | 朱静谦 |
地址: | 214135 江苏省无锡市新*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明涉及半导体先进封装工艺与设备装置技术领域,具体涉及一种用于夹持塑封晶圆的固定装置,包括:底板,用于承载塑封晶圆,底板的上表面和下表面均为平面;固定结构,设置于底板上表面的边缘,与底板形成用于固定塑封晶圆的承载空间;管道结构,成型在底板上,用于对塑封晶圆与底板之间的间隙抽吸真空,使塑封晶圆与底板的上表面始终保持紧密贴合。本发明的用于夹持塑封晶圆的固定装置能够使每一片塑封晶圆内部以及塑封晶圆之间很容易达到工艺要求的温度均匀性,且能够使塑封晶圆平整度以及各种工艺参数的精度更高、工艺集成效果更好。这样,在带固定装置的塑封晶圆上真空溅射金属薄膜,薄膜的物理、电学性能都得到提高。 | ||
搜索关键词: | 用于 夹持 塑封 固定 装置 真空 溅射 金属 薄膜 工艺 | ||
【主权项】:
1.一种用于夹持塑封晶圆的固定装置,其特征在于,包括:底板(4),用于承载所述塑封晶圆(1),所述底板(4)的上表面和下表面均为平面;固定结构,设置于所述底板(4)上表面的边缘处,与所述底板(4)形成用于固定所述塑封晶圆(1)的承载空间;管道结构,成型在所述底板(4)上,用于对所述塑封晶圆(1)与所述底板(4)之间的间隙抽吸真空,使所述塑封晶圆(1)与所述底板(4)的上表面始终保持紧密贴合。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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