[发明专利]一种基于JTAG测试的SiP系统及其内部芯片的JTAG测试方法在审
| 申请号： | 201811564790.0 | 申请日： | 2018-12-20 |
| 公开（公告）号： | CN109557459A | 公开（公告）日： | 2019-04-02 |
| 发明（设计）人： | 秦贺;韩逸飞;祝天瑞 | 申请（专利权）人： | 北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所 |
| 主分类号： | G01R31/3185 | 分类号： | G01R31/3185 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 庞静 |
| 地址： | 100076 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于JTAG测试的SiP系统及其内部芯片的JTAG测试方法。所述SiP包括JTAG测试访问端口、至少两个服从JTAG协议的芯片，记为首位JTAG芯片和末位JTAG芯片，JTAG测试访问端口的测试输入端连接在首位JTAG芯片的JTAG测试输入端上，首位JTAG芯片JTAG测试输出端与末位JTAG芯片测试输入端相连，末位JTAG芯片测试输出端连接至JTAG测试访问端口的测试输出端，构成SiP的JTAG测试链路；SIP内其他待测芯片若为服从JTAG协议的芯片，则通过边界扫描单元互连的方式将其插入到SIP的JTAG测试链路中；若为不服从JTAG协议的芯片或者逻辑簇，则将其与服从JTAG协议的芯片的边界扫描单元互连，通过SIP的JTAG测试链路进行测试数据传输。本发明通过JTAG链路，完成功能测试数据传输，实现内部芯片测试。 | ||
| 搜索关键词： | 访问端口 内部芯片 链路 芯片 边界扫描单元 测试输入端 输出端 测试 互连 测试数据传输 输出端连接 待测芯片 功能测试 数据传输 逻辑簇 输入端 | ||
【主权项】：
1.一种基于JTAG测试的SiP系统，所述SiP包括JTAG测试访问端口、至少两个服从JTAG协议的芯片，记为首位JTAG芯片和末位JTAG芯片，JTAG测试访问端口的测试输入端TDI连接在首位JTAG芯片的JTAG测试输入端TDI上，首位JTAG芯片JTAG测试输出端TDO与末位JTAG芯片测试输入端TDI相连，末位JTAG芯片测试输出端TDO连接至JTAG测试访问端口的测试输出端TDO，构成SiP的JTAG测试链路；SIP内其他待测芯片若为服从JTAG协议的芯片，则通过边界扫描单元互联的方式将其插入到SIP的JTAG测试链路中；若为不服从JTAG协议的芯片或者逻辑簇，则将其与服从JTAG协议的芯片的边界扫描单元互连，通过SIP的JTAG测试链路进行测试数据传输。
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