[发明专利]半导体发光装置及其制造方法在审

专利信息
申请号: 201811568616.3 申请日: 2018-12-21
公开(公告)号: CN110010753A 公开(公告)日: 2019-07-12
发明(设计)人: 池田贤司 申请(专利权)人: 斯坦雷电气株式会社
主分类号: H01L33/64 分类号: H01L33/64;H01L33/62;H01L33/52
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 朱丽娟;黄纶伟
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 提供半导体发光装置及其制造方法。一种半导体发光装置,抑制装置工作时热膨胀对发光元件的影响,并且能够改善发光特性。半导体发光装置具有:金属芯,其隔着树脂层嵌合到形成于基板的通孔中,且贯穿基板;热传导膜,其形成在金属芯的上表面的区域内,且具有平坦面;以及半导体发光元件,其隔着粘接层与热传导膜的平坦面接合。热传导膜的外缘与所述金属芯的上表面的外缘分离。
搜索关键词: 半导体发光装置 热传导膜 金属芯 平坦面 上表面 基板 热膨胀 半导体发光元件 发光特性 发光元件 抑制装置 接合 树脂层 粘接层 嵌合 通孔 制造 贯穿
【主权项】:
1.一种半导体发光装置,其特征在于,所述半导体发光装置具有:基板;金属芯,其隔着树脂层嵌合到形成于所述基板的通孔中,且贯穿所述基板;热传导膜,其形成在所述金属芯的上表面的区域内,且具有平坦面;以及半导体发光元件,其隔着粘接层与所述热传导膜的所述平坦面接合,所述热传导膜的外缘与所述金属芯的所述上表面的外缘分离。
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