[发明专利]一种Ⅲ-Ⅴ族材料纳米光栅刻蚀方法在审

专利信息
申请号: 201811571923.7 申请日: 2018-12-21
公开(公告)号: CN109725375A 公开(公告)日: 2019-05-07
发明(设计)人: 刘昆;叶嗣荣;田坤;段利华;黄茂;莫才平 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第四十四研究所
主分类号: G02B5/18 分类号: G02B5/18
代理公司: 重庆辉腾律师事务所 50215 代理人: 卢胜斌
地址: 400060 *** 国省代码: 重庆;50
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摘要: 发明属于纳米光栅制作领域,具体涉及一种Ⅲ‑Ⅴ族材料纳米光栅刻蚀方法,包括采用干法刻蚀Ⅲ‑Ⅴ族材料晶圆,以将掩膜上的光栅图形转移到Ⅲ‑Ⅴ族材料晶圆上;使用氧气干法刻蚀晶圆表面;判断是否达到目标尺寸,若没达到则重复上述步骤,否则结束刻蚀;本发明在光栅刻蚀的时候,将光栅刻蚀过程分段,抑制刻蚀表面Ⅲ、Ⅴ族元素的大量累积,减少聚合物的生成,同时衬底温度不会有较大的升高;并在分段周期内引入表面清洗工艺,使用氧气干法刻蚀光栅表面,氧气与有机聚合物发生反应,生成可挥发生成物,有效去除刻蚀过程中产生的聚合物,使光栅表面光洁。
搜索关键词: 光栅 刻蚀 干法刻蚀 氧气 材料纳米 光栅表面 刻蚀过程 聚合物 晶圆 分段 表面清洗工艺 有机聚合物 光栅图形 晶圆表面 刻蚀表面 纳米光栅 光洁 衬底 挥发 去除 掩膜 升高 引入 重复 制作
【主权项】:
1.一种Ⅲ‑Ⅴ族材料纳米光栅刻蚀方法,其特征在于,包括:S1、采用干法刻蚀Ⅲ‑Ⅴ族材料晶圆,以将掩膜上的光栅图形转移到Ⅲ‑Ⅴ族材料晶圆上;S2、使用氧气干法刻蚀晶圆表面;S3、判断是否达到目标尺寸,若没达到则重复步骤S1~S2,否则结束刻蚀。
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