[发明专利]光学相干层析成像装置和用于该装置的光源装置在审
| 申请号： | 201811573977.7 | 申请日： | 2018-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN109998473A | 公开（公告）日： | 2019-07-12 |
| 发明（设计）人： | 野泽有司;加藤千比吕;加茂考史 | 申请（专利权）人： | 株式会社多美 |
| 主分类号： | A61B3/12 | 分类号： | A61B3/12;A61B3/14 |
| 代理公司： | 北京华夏正合知识产权代理事务所(普通合伙) 11017 | 代理人： | 韩登营;蒋国伟 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种光学相干层析成像装置和用于该光学相干层析成像装置的光源装置。光学相干层析成像装置拍摄受检眼的光学层析图像。光学相干层析成像装置具有波长扫描型的光源装置和测定光学系统，该测定光学系统向受检眼照射从光源装置输出的光。当设从光源装置向受检眼照射的光的直径为D，设光源装置的波长扫描频率为S，设从光源装置向受检眼照射的光的中心波长为λ时，不等式D/S×λ＞1.61成立。据此，能够提高从受检眼的视网膜反射的光的信号强度。 | ||
| 搜索关键词： | 光源装置 光学相干层析成像装置 测定光学系统 照射 波长扫描 视网膜反射 中心波长 光学层 图像 输出 拍摄 | ||
【主权项】：
1.一种光学相干层析成像装置，其拍摄受检眼的光学层析图像，其特征在于，具有波长扫描型的光源装置和测定光学系统，其中该测定光学系统向所述受检眼照射从所述光源装置输出的光，在设从所述光源装置向所述受检眼照射的光的直径为D，设所述光源装置的波长扫描频率为S，且设从所述光源装置向所述受检眼照射的光的中心波长为λ时，D/S×λ＞1.61成立。
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