[发明专利]一种氧化石墨烯层数测定方法在审
申请号: | 201811575038.6 | 申请日: | 2018-12-21 |
公开(公告)号: | CN109459426A | 公开(公告)日: | 2019-03-12 |
发明(设计)人: | 李星;刘长虹;蔡雨婷;漆长席 | 申请(专利权)人: | 四川聚创石墨烯科技有限公司;大英聚能科技发展有限公司 |
主分类号: | G01N21/65 | 分类号: | G01N21/65;G01N23/22;G01Q60/24 |
代理公司: | 成都中玺知识产权代理有限公司 51233 | 代理人: | 熊礼;邢伟 |
地址: | 610036 四川省遂宁*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明提供了一种氧化石墨烯层数测定方法,所述测定方法包括:先用拉曼光谱初步确定氧化石墨烯的层数,若层数在1~2层,则进一步采用原子力显微镜确定其层数;若层数在3~4层,则通过拉曼光谱2D峰拟合出的洛伦兹力峰数确定;若层数在5层及以上则使用高分辨率透射电镜直观得出其层数,能够精确的测定氧化石墨烯的层数。本发明将高分辨率透射电子显微镜,拉曼光谱,原子力显微镜三种测定技术进行有机结合,能够系统完善的测定氧化石墨烯的层数。 | ||
搜索关键词: | 氧化石墨烯 拉曼光谱 氧化石墨烯层 原子力显微镜 高分辨率 透射电子显微镜 洛伦兹力 透射电镜 系统完善 有机结合 峰拟合 峰数 直观 | ||
【主权项】:
1.一种氧化石墨烯层数测定方法,其特征在于,所述测定方法包括以下步骤:获取待测氧化石墨烯的拉曼光谱图,计算拉曼光谱图中的IG/I2D,当IG/I2D小于1.0时,初步判定氧化石墨烯为单层或双层结构;当IG/I2D为1.0~1.5时,初步判定氧化石墨烯为3层或4层结构;当IG/I2D大于1.5时,初步判定氧化石墨烯为5层以上结构,其中,所述IG表示G峰强度,所述I2D表示2D峰强度;对初步判定为单层或双层结构的氧化石墨烯,利用原子力显微镜分辨氧化石墨烯为单层或者双层结构;对初步判定为3层或4层结构的氧化石墨烯,计算所述拉曼光谱图的2D峰拟合的洛伦兹力峰数,分辨氧化石墨烯为3层或4层结构;对初步判定为5层以上结构的氧化石墨烯,通过高分辨率透射电镜获取该氧化石墨烯的电子显微图像,观察确定所述氧化石墨烯具体层数。
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