[发明专利]一种用于焦平面探测器测试的开关机试验系统在审
| 申请号： | 201811584569.1 | 申请日： | 2018-12-24 |
| 公开（公告）号： | CN109581124A | 公开（公告）日： | 2019-04-05 |
| 发明（设计）人： | 袁鎏;柯尊贵;孔繁林;王鸥;周小燕 | 申请（专利权）人： | 西南技术物理研究所 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G05B19/042 |
| 代理公司： | 中国兵器工业集团公司专利中心 11011 | 代理人： | 祁恒 |
| 地址： | 610041 四川*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明属于属于电子产品自动化测试技术领域，具体涉及一种用于焦平面探测器测试的开关机试验系统。该系统根据焦平面探测器开关机可靠性试验需求，利用可编程时间继电器编程产生特定的时序关系，经由继电器转接PCB反复进行开关步骤，从而对制冷机电源与制冷机之间、FPGA开发板电源与FPGA开发板之间、低压和高压电源与待测焦平面探测器之间的通路进行自动通断控制，实现待测产品的自动反复开关机控制功能。 | ||
| 搜索关键词： | 焦平面探测器 开关机 试验系统 继电器 可编程时间继电器 自动化测试技术 反复开关机 可靠性试验 制冷机电源 测试 待测产品 高压电源 开关步骤 控制功能 时序关系 自动通断 转接 制冷机 电子产品 编程 电源 | ||
【主权项】：
1.一种用于焦平面探测器测试的开关机试验系统，其特征在于，所述系统包括测试设备电源、待测焦平面探测器、继电器转接PCB和可编程时间继电器；其中，在所述测试设备电源和待测焦平面探测器之间加入所述继电器转接PCB作为开关，并用所述可编程时间继电器按照规定的时序控制所述继电器转接PCB的通断，从而对所述测试设备电源与所述探测器之间的通路进行自动通断控制。
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