[发明专利]一种双光路调试合束方法有效
| 申请号： | 201811584843.5 | 申请日： | 2018-12-24 |
| 公开（公告）号： | CN109664018B | 公开（公告）日： | 2019-12-03 |
| 发明（设计）人： | 李珣;李明;刘红军 | 申请（专利权）人： | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | B23K26/06 | 分类号： | B23K26/06;B23K26/064 |
| 代理公司： | 61211 西安智邦专利商标代理有限公司 | 代理人： | 郑丽红<国际申请>=<国际公布>=<进入 |
| 地址： | 710119 陕西省西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种双光路调试合束方法，解决现有激光合束方式无法实现两路光线精准合束的问题。该方法包括以下步骤：1)调节光路一；1.1)调节光路一光斑居中；1.2)粗调光路一水平度及垂直度；1.3)精调光路一水平度及垂直度；2)调节光路二；2.1)调节光路二光斑居中；2.2)粗调光路二水平度及垂直度；2.3)精调光路二水平度及垂直度；3)合束及检测；3.1)将光路一和光路二合束；3.2)合束检测。 | ||
| 搜索关键词： | 光路 合束 垂直度 水平度 光斑 双光路 粗调 精调 调试 检测 两路 激光 | ||
【主权项】：
1.一种双光路调试合束方法，其特征在于，包括以下步骤：/n1)调节光路一；/n1.1)调节光路一光斑居中，使光斑在光路中的任一光学元件表面均是从其中心入射及出射；/n1.2)粗调光路一水平度及垂直度，调整光路中其中之几或全部元器件的三维空间姿态，实现对光路一的水平度、垂直度的调节；/n1.3)精调光路一水平度及垂直度，采用高精度观察仪器观察，调整光路中其中之几或全部元器件的三维空间姿态，实现对光路一的水平度、垂直度的调节；/n2)调节光路二；/n2.1)调节光路二光斑居中，使光斑在光路中的任一光学元件表面均是从其中心入射及出射；/n2.2)粗调光路二水平度及垂直度，调整光路中其中之几或全部元器件的三维空间姿态，实现对光路二的水平度、垂直度的调节；/n2.3)精调光路二水平度及垂直度，采用高精度观察仪器观察，通过调整光路中其中之几或全部元器件的三维空间姿态，实现对光路二的水平度、垂直度的调节；/n3)合束及检测；/n3.1)将光路一和光路二合束；/n3.2)合束检测；/n采用高精度观察仪器检测是否合束，若没有实现合束，则通过调整双光楔姿态，进行光束一和光束二的合束。/n
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