[发明专利]一种多霍尔测试样品的测试夹具、测试控制器及测试方法在审
| 申请号： | 201811586561.9 | 申请日： | 2018-12-25 |
| 公开（公告）号： | CN109696568A | 公开（公告）日： | 2019-04-30 |
| 发明（设计）人： | 张杨;李弋洋 | 申请（专利权）人： | 中科芯电半导体科技（北京）有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京同辉知识产权代理事务所(普通合伙) 11357 | 代理人： | 张素红 |
| 地址： | 100076 北京市大兴区西红*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种多霍尔测试样品的测试夹具、测试控制器及测试方法。该夹具连接于霍尔效应测试仪，夹具上设有多块焊盘，每块焊盘上焊接有一个测试电极对应用于测试一个样品。测试控制器通过金属导线与上述测试夹具的焊盘连接；控制器内部有与焊盘个数对应的4进4出继电器，每个继电器对应用于测试夹具上的一块样品。当测试一个样品时，夹持该样品的焊盘对应连接的测试控制器内继电器吸合，其余继电器断开，此时对该样品进行测试；当测试另一样品时，夹持该另一样品的焊盘对应连接的测试控制器内继电器吸合，其余继电器断开，此时对该另一样品进行测试。以往4块MBE生长GaAs基本征GaAs结构样品霍尔效应测试需2小时，目前仅1小时即可。 | ||
| 搜索关键词： | 焊盘 测试控制器 测试 测试夹具 夹具 继电器断开 继电器吸合 测试样品 霍尔效应 霍尔 夹持 继电器 测试电极 结构样品 金属导线 控制器 测试仪 多块 焊接 电器 生长 | ||
【主权项】：
1.一种多霍尔测试样品的测试夹具，连接于霍尔效应测试仪，其特征在于，该夹具上设有多块焊盘，每块焊盘上焊接有一个测试电极对应用于测试一个样品。
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